測定技術研究に関する 論文&研究発表

項目露出率を最小化する複数等質テスト構成手法

【概要】

分類

テスト技術

タイトル

項目露出率を最小化する複数等質テスト構成手法

発表年

2013

発表者

石井隆稔(電気通信大学)
舛田博之
仁田光彦
植野真臣(電気通信大学)

出典

日本テスト学会第11回大会

概要

項目バンクから複数の等質テストを構成する際に、テスト間に重複を許した条件で最大項目露出率が最小となる手法を提案しました。
著者らが以前提唱した手法に、項目露出率に関する条件を追加した一種のクリーク問題として解くことで、 最大項目露出率が最小な複数等質テスト群を構成します。以前の手法よりも少ない露出率で同等のテスト数を構成可能であることが実際の項目バンクに適用することで確認されました。

受賞

日本テスト学会大会発表賞(第7回)

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